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J-GLOBAL ID：201502209347740221   Reference number：15A0856618

共鳴軟X線散乱による強磁性金属La_0.6Sr_0.4MnO₃薄膜の深さ方向電子状態解析

Author (10)： SHIBATA GORO (東大 理) ,  WADACHI HIROKI (東大 物性研) ,  TAKUBO KO (東大 物性研) ,  TAKAHASHI YUKIO (東大 理) ,  SUTARTO Ronny (Canadian Light Source) ,  HE Feizhou (Canadian Light Source) ,  YOSHIMATSU KOHEI (KEK-PF) ,  KUMIGASHIRA HIROSHI (KEK-PF) ,  KOIDE TSUNEHARU (KEK-PF) ,  FUJIMORI ATSUSHI (東大 理)
Material： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
Volume： 70  Issue： 1  Page： ROMBUNNO.22ABD-4  Publication year： Mar. 24, 2015 
JST Material Number： S0671C  ISSN： 2189-079X  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *manganese compound ,  *oxoate ,  *lanthanum compound ,  *strontium compound ,  *thin film ,  X-ray scattering ,  resonance scattering ,  soft X-ray ,  electronic state ,  depth distribution ,  membrane structure ,  Computer Simulation ,  ferromagnet ,  magnetic thin film ,  *manganite ,  resonant X-ray scattering ,  computer application ,  utilization

JST classification (1)： Magnetic properties of oxides  (BM06050E)

Terms in the title (6)： 共鳴軟X線散乱 ,  強磁性金属 ,  薄膜 ,  深さ方向 ,  電子状態 ,  解析