Art

J-GLOBAL ID：201502210798068150   Reference number：15A0598252

走査型プローブ顕微鏡による有機分子の界面挙動評価

Author (1)： UEMURA SHINOBU (香川大 工)
Material： 日本接着学会誌  (Journal of the Adhesion Society of Japan)
Volume： 51  Issue： 5  Page： 157-163  Publication year： May. 01, 2015 
JST Material Number： G0749A  ISSN： 0916-4812  CODEN： NSEGE7  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： nanomaterial ,  nanostructure ,  *solid state device ,  *organic compound ,  surface chemistry ,  *surface structure ,  *microscopy ,  *measurement ,  shape measurement ,  conductor material ,  sample preparation ,  *evaporated film ,  *substrate(plate) ,  *surface modification ,  iodine ,  solvent ,  treatment ,  *frequency modulation ,  surface level ,  visualization
Semi thesaurus term： *tunnel current measurement ,  *nanodevice ,  *interfacial structure ,  interface state ,  *atomic force microscopy ,  *scanning tunnelling microscopy ,  *monomolecular film ,  Electrochemical treatment ,  conductive material ,  surface metrology ,  *organic molecule

JST classification (3)： Stereochemistry of polymers  (CG02031G) ,  Structure and morphology of polymer solids  (CG02022M) ,  Structure of other amorphous materials  (BK04040Z)

Reference (28)：

• M. Kunitake, R. Higuchi, R. Tanoue, S. Uemura, Curr. Opin. Colloid Interface Sci., 19, 140 (2014).
• S. Uemura, R. Tanoue, N. Yilmaz, A. Ohira, M. Kunitake, Materials, 3, 4252 (2010).
• S. Uemura, M. Sakata, C. Hirayama, M. Kunitake, Langmuir, 20, 9198 (2004).
• S. Uemura, I. Taniguchi, M. Sakata, M. Kunitake, J. Electroanal. Chem., 623, 1 (2008).
• S. Yoshimoto, R. Narita, E. Tsutsumi, M. Matsumoto, K. Itaya, O. Ito, K. Fujiwara, Y. Murata, K. Komatsu, Langmuir, 18, 8518 (2002).

Terms in the title (5)： 走査型プローブ顕微鏡 ,  有機分子 ,  界面 ,  挙動 ,  評価