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J-GLOBAL ID：201502210949869877   Reference number：15A0494641

Surface Potential Investigation of Fullerene Derivative Film on Platinum Electrode under UV Irradiation by Kelvin Probe Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever

ピエゾ電気カンチレバーを用いたKelvinプローブ力顕微鏡による,UV照射下における白金電極上のフラーレン誘導体膜の表面電位研究

Author (7)： SATOH Nobuo (Dep. of Electronic Sci. and Engineering, Kyoto Univ.) ,  KATORI Shigetaka (Dep. of Electronic Sci. and Engineering, Kyoto Univ.) ,  KOBAYASHI Kei (The Hakubi Center for Advanced Res., Kyoto Univ.) ,  WATANABE Shunji (Nikon Corp.) ,  FUJII Toru (Nikon Corp.) ,  MATSUSHIGE Kazumi (Dep. of Electronic Sci. and Engineering, Kyoto Univ.) ,  YAMADA Hirofumi (Dep. of Electronic Sci. and Engineering, Kyoto Univ.)
Material： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (表面科学とナノテクノロジー)
Volume： 13  Page： 102-106 (J-STAGE)  Publication year： 2015 
JST Material Number： U0016A  ISSN： 1348-0391  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *fullerene ,  *thin film growth ,  platinum electrode ,  *surface potential ,  *piezoelectricity ,  *cantilever beam ,  *microscopy ,  *atomic force microscope ,  topography ,  surface structure ,  resolving power ,  ultraviolet irradiation ,  lead zirconate titanate ,  fine patterning ,  wafer ,  vacuum deposition ,  pattern formation ,  band structure ,  organic semiconductor ,  space charge ,  film thickness ,  visual field ,  polymer membrane
Semi thesaurus term： PCBM ,  *fulleride ,  piezoelectricity ,  *piezoelectric cantilever ,  *Kelvin probe force microscopy ,  surface topography ,  image resolution ,  PZT ,  silicon substrate ,  energy band ,  dark field

JST classification (3)： Carbon and its compounds  (YB02060D) ,  Thin films of organic compounds  (BK14070L) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (8)： ピエゾ電気 ,  カンチレバー ,  Kelvinプローブ力顕微鏡 ,  UV照射 ,  白金電極 ,  フラーレン誘導体 ,  表面電位 ,  研究