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J-GLOBAL ID：201502212070744119   Reference number：15A0222818

Direct observation of electron emission and recombination processes by time domain measurements of charge pumping current

電荷ポンピング電流の時間領域測定による電子放出過程と再結合過程の直接観測

Author (4)： HORI Masahiro (Graduate School of Sci. and Engineering, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN) ,  WATANABE Tokinobu (Graduate School of Sci. and Engineering, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN) ,  TSUCHIYA Toshiaki (Interdisciplinary Graduate School of Sci. and Engineering, Shimane Univ., 1060 Nishikawatsu, Matsue 690-8504, JPN) ,  ONO Yukinori (Graduate School of Sci. and Engineering, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 106  Issue： 4  Page： 041603-041603-4  Publication year： Jan. 26, 2015 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *excitation (physics) ,  signal analysis ,  electron emission ,  *recombination (connection) ,  electron density ,  electron ,  MOSFET ,  electric current ,  time domain analysis ,  electron current
Semi thesaurus term： 正孔電流 ,  *charge pumping ,  electron current

JST classification (1)： Transistors  (NC03070N)

Terms in the title (5)： 電荷ポンピング ,  時間領域測定 ,  電子放出 ,  過程 ,  観測