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J-GLOBAL ID：201502212825602132   Reference number：15A0904670

高速重イオン照射したCeO₂/SiO₂中欠陥構造の小角X線散乱評価

Author (7)： TSURUTA KONOSUKE (九大 大学院) ,  TAKAGI MASAYA (九大 大学院) ,  YOSHIOKA SATORU (九大 大学院) ,  YASUDA KAZUHIRO (九大 大学院) ,  MATSUMURA SHO (九大 大学院) ,  HORIDE TOMOYA (九州工大 大学院) ,  ISHIKAWA NORITO (原子力機構)
Material： 日本金属学会九州支部・日本鉄鋼協会九州支部・軽金属学会九州支部合同学術講演大会講演概要集  (日本金属学会九州支部・日本鉄鋼協会九州支部・軽金属学会九州支部合同学術講演会概要集)
Volume： 2015  Page： P77  Publication year： 2015 
JST Material Number： L2230A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *cerium oxide ,  silicon oxide ,  *heavy ion irradiation ,  *lattice defect ,  small angle X-ray scattering
Semi thesaurus term： *swift heavy ion irradiation

JST classification (2)： Interactions with ions  (BK16070Z) ,  Lattice defects in other inorganic compounds  (BK12050B)

Terms in the title (5)： 高速重イオン照射 ,  SiO2 ,  欠陥構造 ,  小角X線散乱 ,  評価