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J-GLOBAL ID：201502213853538764   Reference number：15A1086599

ウェアラブル携帯機器が受けるESDストレス

Author (1)： YOSHIDA TAKAHIRO (東京理大 工)
Material： 電子情報通信学会大会講演論文集(CD-ROM)  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集(CD-ROM))
Volume： 2015  Issue： ソサイエティ大会  Page： ROMBUNNO.BI-1-4  Publication year： Aug. 25, 2015 
JST Material Number： G0508B  ISSN： 1349-144X  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *input output unit ,  *electric discharge ,  *noise(signal) ,  antenna(electric) ,  duration time ,  constitution
Semi thesaurus term： *ESD ,  arc duration ,  *wearable device ,  circuit configuration ,  *electromagnetic noise

JST classification (3)： Noise measurement  (ND04030F) ,  Electrostatics,magnetostatics  (BD01010C) ,  Discharges in general  (BJ03010I)

Terms in the title (4)： ウェアラブル ,  携帯機器 ,  ESD ,  ストレス