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J-GLOBAL ID：201502214992879882   Reference number：15A0877721

Gate-modulation imaging of organic thin-film transistor arrays: Visualization of distributed mobility and dead pixels

有機薄膜トランジスタ配列のゲート変調画像化:分散した移動度とデッドピクセルの可視化

Author (5)： TSUTSUMI Jun'ya (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Central 4, 1-1-1 Higashi, Tsukuba 305-8562, JPN) ,  MATSUOKA Satoshi (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Central 4, 1-1-1 Higashi, Tsukuba 305-8562, JPN) ,  YAMADA Toshikazu (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Central 4, 1-1-1 Higashi, Tsukuba 305-8562, JPN) ,  HASEGAWA Tatsuo (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba Central 4, 1-1-1 Higashi, Tsukuba 305-8562, JPN) ,  HASEGAWA Tatsuo (Dep. of Applied Physics, The Univ. of Tokyo, 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-8656, JPN)
Material： Organic Electronics  (Org Electron)
Volume： 25  Page： 289-294  Publication year： Oct. 2015 
JST Material Number： W1352A  ISSN： 1566-1199  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *thin film transistor ,  FET ,  *organic semiconductor ,  *image sensor ,  charge coupled device ,  pixel ,  defect ,  sequence and arrangement ,  *visualization ,  signal modulation ,  gate(semiconductor) ,  carrier mobility ,  *quality inspection
Semi thesaurus term： *charge coupled device image sensor ,  modulation(signal) ,  organic thin-film transistor

JST classification (2)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Quality inspection  (KB04020L)

Terms in the title (7)： 有機薄膜トランジスタ ,  ゲート ,  変調 ,  画像化 ,  移動度 ,  ピクセル ,  可視化