Art

J-GLOBAL ID：201502215348299928   Reference number：15A1158998

Refractive-index modifications in Silica-Based Films by Undurator Radiation

アンジュレータ放射によるシリカベース膜の屈折率変化

Author (4)： MORIWAKI K. (Kobe Univ.) ,  KIMURA G. (Kobe Univ.) ,  KANDA K. (Univ. Hyogo) ,  MATSUI S. (Univ. Hyogo)
Material： LASTI Annual Report  (LASTI Annu Rep)
Volume： 16  Page： 79-80  Publication year： Sep. 2015 
JST Material Number： L4711A  ISSN： 2189-6909  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *synchrotron radiation ,  electron beam ,  *refractive index ,  *silicon dioxide ,  optical absorption ,  lattice defect ,  reduction(reaction)
Semi thesaurus term： undulator radiation ,  silica

JST classification (2)： Irradiational changes of other materials  (BK16124V) ,  Optical properties of condensed matter in general  (BM08010A)

Terms in the title (3)： アンジュレータ放射 ,  シリカ ,  屈折率変化