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J-GLOBAL ID：201502216936024418   Reference number：15A0205901

格子欠陥エンジニアリングによる半導体ナノ粒子へのキャリアドーピングと局在プラズモン共鳴の研究

Author (1)： HAMANAKA YASUSHI (名古屋工大)
Material： 村田学術振興財団年報  (Annual Report of the Murata Science Foundation)
Issue： 28  Page： 590-598  Publication year： Dec. 2014 
JST Material Number： L5491A  ISSN： 0919-3383  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *lattice defect ,  *nano particle ,  *carrier injection ,  *doping ,  *plasmon ,  *plasma resonance ,  *copper sulfide ,  Copper ,  loss ,  near infrared radiation ,  particle size (diameter) ,  optical property ,  resonance energy ,  Energy Transfer ,  energy ,  carrier density ,  nonlinear optics ,  pulsed laser ,  absorption coefficient ,  colloid ,  carrier doping ,  *localized plasmon ,  hole density ,  *semiconductor nanoparticle ,  nonlinear absorption coefficient ,  average grain diameter
Semi thesaurus term： picosecond laser ,  plasmon resonance ,  resonance energy transfer ,  high energy ,  mean grain diameter

JST classification (3)： Colloid chemistry in general  (CB11010C) ,  Lattice defects in semiconductors  (BK12040Q) ,  Solid-state plasmas  (BM02160W)

Reference (9)：

• T. Kuzuya, K. Itoh, and K. Sumiyama, J. Colloid Interface Sci. 319, 565 (2008).
• U. Kreibig and M. Vollmer, “Optical Properties of Metal Clusters”, (Springer-Verlag, Berlin, 1995).
• P. Lukashev, W. R. L. Lambrecht, T. Kotani, and M. van Schilfgaarde, Phys. Rev. B76, 195202 (2007).
• P. Y. Yu and M. Cardona, “Fundamentals of Semiconductors, Physics and Materials Properties” , (Springer, Heidelberg, 2010).
• C. Kittel, “Introduction to Solid State Physics” , (John Wiley & Sons, New York, 2005).

Terms in the title (6)： 格子欠陥 ,  エンジニアリング ,  半導体ナノ粒子 ,  キャリアドーピング ,  局在プラズモン共鳴 ,  研究