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J-GLOBAL ID：201502224756570760   Reference number：15A0533114

In situ real-time monitoring of geometric, electronic, and molecular structures at solid/liquid interfaces

固体/液体界面での形状,電気,分子構造のその場実時間モニタ

Author (2)： UOSAKI Kohei (National Inst. Materials Sci. (NIMS), Ibaraki, JPN) ,  UOSAKI Kohei (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 54  Issue： 3  Page： 030102.1-030102.14  Publication year： Mar. 2015 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 文献レビュー  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *solid-liquid interface ,  morphology (form) ,  molecular structure ,  *in situ observation ,  time dependence ,  monitor ,  electron microscope ,  low energy electron diffraction ,  *scanning probe microscope ,  *X-Ray Diffraction ,  *spectroscopy ,  gold electrode ,  single crystal ,  *Palladium ,  *metallic thin film ,  *nonlinear spectroscopy ,  synchrotron x-ray diffraction
Semi thesaurus term： low energy electron diffraction ,  scanning probe microscope ,  synchrotron x-ray diffraction

JST classification (1)： Solid-liquid interface  (CB12050B)

Reference (41)：

• G. Jerkiewicz, M. P. Soriaga, K. Uosaki, and A. Wieckowski, Solid-Liquid Electrochemical Interfaces (ACS, Washington, D.C., 1997) ACS Symposium Series, Vol. 656.
• Scanning Tunneling Microscopy, ed. H. Neddermeyer (Springer, Heidelberg, 1993) Perspectives in Condensed Matter Physics, Vol. 6.
• R. Yamada and K. Uosaki, in Applied Scanning Probe Methods VI, ed. B. Bhushan and S. Kawata (Springer, Heidelberg, 2006) Vol. 13, p. 65.
• H. Naohara, S. Ye, and K. Uosaki, J. Phys. Chem. B 102, 4366 (1998).
• S. Takakusagi, K. Kitamura, and K. Uosaki, J. Phys. Chem. C 112, 3073 (2008).

Terms in the title (5)： 固体 ,  界面 ,  分子構造 ,  実時間 ,  モニタ