Art

J-GLOBAL ID：201502227384094477   Reference number：15A0580196

SEM Observation of Carbon Nanotube and Graphene

カーボンナノチューブ・グラフェンのSEM観察

Author (2)： HONMA YOSHIKAZU (東京理科大学) ,  KATO HIROKI (東京理科大学)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 36  Issue： 4  Page： 178-183 (J-STAGE)  Publication year： 2015 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning electron microscope ,  *electron microscopy ,  *single-walled carbon nanotube ,  secondary electron emission ,  *graphene ,  image formation(optics) ,  insulating material ,  contrast ,  reaction mechanism ,  in situ observation ,  metal ,  insulator
Semi thesaurus term： monolayer graphene

JST classification (2)： Other phsical analysis  (CC03014E) ,  Inorganic compounds and elements in general  (CD01010D)

Reference (15)：

• 1) Y. Homma, S. Chiashi and Y. Kobayashi: Rep. Prog. Phys. 72, 066502 (2009).
• 2) Y. Lin and D.C. Joy: Surf. Interface Anal. 37, 895 (2005).
• 3) D.C. Joy and C.S. Joy: J. Microsc. Soc. Am. 1, 107 (1995).
• 4) Y. Homma, S. Suzuki, Y. Kobayashi, M. Nagase and D. Takagi: Appl. Phys. Lett. 84, 1750 (2004).
• 5) Y. Homma, D. Takagi, S. Suzuki, K. Kanzaki and Y. Kobayashi: J. Electron Microscopy, 54, i3 (2005).

Terms in the title (3)： カーボンナノチューブ ,  グラフェン ,  SEM観察