Art

J-GLOBAL ID：201502252221718290   Reference number：15A0491564

Electron Transport in Superconducting Silicon Surface Reconstructions

シリコン表面超構造における超伝導輸送現象

Author (2)： UCHIHASHI TAKASHI (物質・材料研究機構) ,  YOSHIZAWA SHUNSUKE (物質・材料研究機構)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 36  Issue： 3  Page： 112-117 (J-STAGE)  Publication year： 2015 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *silicon ,  surface structure ,  *Superconductivity ,  *transport phenomenon ,  phase transition ,  superconductor ,  surface reconstruction ,  *scanning tunneling microscope ,  Indium ,  length ,  atomic-scale ,  superconducting transition ,  *electron transport ,  structure
Semi thesaurus term： indium ,  silicon ,  scanning tunneling microscope

JST classification (2)： Physical analysis in general  (CC03011F) ,  Properties of superconductors in general  (BM04021A)

Reference (36)：

• 1) V.G. Lifshits, A.A. Saranin and A.V. Zotov: “Surface Phases on Silicon: Preparation, Structures, and Properties” (Wiley, Chichester, 1994).
• 2) 長谷川修司: 日本物理学会誌 54, 347 (1999).
• 3) H.W. Yeom, S. Takeda, E. Rotenberg, I. Matsuda, K. Horikoshi, J. Schaefer, C.M. Lee, S.D. Kevan, T. Ohta, T. Nagao and S. Hasegawa: Phys. Rev. Lett. 82, 4898 (1999).
• 4) T. Uchihashi and U. Ramsperger: Appl. Phys. Lett. 80, 4169 (2002).
• 5) T. Tanikawa, I. Matsuda, T. Kanagawa and S. Hasegawa: Phys. Rev. Lett. 93, 016801 (2004).

Terms in the title (3)： シリコン ,  伝導 ,  輸送現象