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J-GLOBAL ID：201502252341447214   Reference number：15A0067627

Automatic Illumination Adjustment for Visual Inspection Device using Spectrum Analysis

対数振幅スペクトル解析による画質評価を用いた自動外観検査用照明の自動調整法

Author (8)： FURUYA MASAAKI (山梨県富士工業技術センター) ,  NAKAGOMI HIROYUKI (山梨県工業技術センター) ,  FUSE YOSHIHIRO (山梨県工業技術センター) ,  NAKAMURA MASANA (山梨県富士工業技術センター) ,  YAMADA HIROYUKI (山梨県富士工業技術センター) ,  ABE OSAMU (山梨県富士工業技術センター) ,  WATANABE HIROMI (山梨大学大学院) ,  KOTANI SHINJI (山梨大学大学院)
Material： 精密工学会誌(Web)  (Journal of the Japan Society for Precision Engineering (Web))
Volume： 80  Issue： 12  Page： 1150-1156 (J-STAGE)  Publication year： 2014 
JST Material Number： U0462A  ISSN： 1882-675X  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： logarithm ,  amplitude ,  spectrum ,  image quality ,  evaluation ,  *visual inspection ,  *automatic control ,  appearance inspection ,  automatic inspection system ,  Fourier transformation ,  grey level image ,  dynamic range ,  chrominance signal ,  visual field ,  *dimming

JST classification (2)： Quality inspection  (KB04020L) ,  Graphic and image processing in general  (JE04010I)

Reference (15)：

• 1) 青木公也, 舟橋琢磨, 輿水大和, 三和田靖彦: 周辺視と固視微動に学ぶ「傷の気付き」アルゴリズム, 精密工学会誌, 79, 11 (2013-11),1045.
• 2) 青木公也, 輿水大和: 人に学ぶ画像検査機械開発, 非破壊検査協会, 非破壊検査, 63, 1 (2014-1), 3
• 3) 生田剛一, 田中健一, 久間和生: 外観検査における欠陥特徴の自動学習 (映像・マルチメディア処理及び一般), 電子情報通信学会技術研報告. MVE, マルチメディア・仮想環境基礎, 106, 157 (2006-07-06), 43.
• 4) 増村茂樹: マシンビジョンライティング基礎編 第3版, 日本インダストリアルイメージング協会 (2010-03).
• 5) 増村茂樹: マシンビジョンライティング応用編 第1版, 日本インダストリアルイメージング協会 (2010-07).

Terms in the title (7)： 対数 ,  振幅スペクトル ,  解析 ,  画質評価 ,  外観検査 ,  照明 ,  自動調整