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J-GLOBAL ID：201502258397740214   Reference number：15A0475803

A fluorescence XAFS measurement instrument in the soft x-ray region toward observation under operando conditions

オペランド条件下の観測に向けた軟X線領域における蛍光XAFS測定装置

Author (4)： HONDA M. (Quantum Beam Sci. Center, Japan Atomic Energy Agency (JAEA), 2-4 Shirakata-Shirane, Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki ...) ,  BABA Y. (Quantum Beam Sci. Center, Japan Atomic Energy Agency (JAEA), 2-4 Shirakata-Shirane, Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki ...) ,  SHIMOYAMA I. (Quantum Beam Sci. Center, Japan Atomic Energy Agency (JAEA), 2-4 Shirakata-Shirane, Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki ...) ,  SEKIGUCHI T. (Quantum Beam Sci. Center, Japan Atomic Energy Agency (JAEA), 2-4 Shirakata-Shirane, Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki ...)
Material： Review of Scientific Instruments  (Rev Sci Instrum)
Volume： 86  Issue： 3  Page： 035103-035103-5  Publication year： Mar. 2015 
JST Material Number： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *XAFS ,  *X-ray fluorescence analysis ,  mercapto group ,  synchrotron radiation ,  hydrogen ion concentration ,  sulfur ,  thiolate ,  absorption edge ,  aliphatic amine ,  thiol ,  aliphatic carboxylic acid ,  sulfur containing amino acid ,  primary amine
Semi thesaurus term： thiol group ,  thiolate

JST classification (2)： Other phsical analysis  (CC03014E) ,  Other methods of structure determination  (BK01070L)

Substance index (1)： Cysteine

Terms in the title (6)： オペランド ,  観測 ,  軟X線 ,  蛍光 ,  XAFS ,  測定装置