基盤外観検査システムにおける新たな取り組み  基板外観検査への3D技術の導入  2D/3D-AOI『Sherlockシリーズ』

TAKAOKA YUSUKE

Art

J-GLOBAL ID：201502283070976243 Reference number：15A0094799

基盤外観検査システムにおける新たな取り組み基板外観検査への3D技術の導入 2D/3D-AOI『Sherlockシリーズ』

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Volume： 26 Issue： 1 Page： 84-88 Publication year： Jan. 10, 2015
JST Material Number： L2340A ISSN： 0915-6755 Document type： Article
Article type：解説 Country of issue： Japan (JPN) Language： JAPANESE (JA)

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Quality inspection , Printed circuits , Graphic and image processing in general

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基盤外観検査システムにおける新たな取り組み 基板外観検査への3D技術の導入 2D/3D-AOI『Sherlockシリーズ』

基盤外観検査システムにおける新たな取り組み基板外観検査への3D技術の導入 2D/3D-AOI『Sherlockシリーズ』