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J-GLOBAL ID：201502287659978497   Reference number：15A0275238

分析化学における放射光の利用 粉末X線回折

Author (1)： IDA TAKASHI (名古屋大 先進セラミックス研究セ)
Material： ぶんせき
Issue： 2  Page： 52-57  Publication year： Feb. 05, 2015 
JST Material Number： S0128B  ISSN： 0386-2178  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray diffraction ,  X-ray structural analysis ,  data analysis ,  mineral(geology) ,  metal ,  ceramics ,  identification ,  qualitative analysis ,  quantitative analysis(analytical chemistry)
Semi thesaurus term： X-ray crystallography ,  *synchrotron x-ray diffraction ,  monocrystal X-ray diffraction ,  *powder X-ray diffraction

JST classification (2)： Other phsical analysis  (CC03014E) ,  X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Reference (9)：

• W. Kugler : Advances in X-ray Analysis, 46, 1 (2003).
• D. Blake, D. Vaniman, C. Achilles, R. Anderson, D. Bish, T. Bristow, C. Chen, S. Chipera, J. Crisp, D. Des Marais, R. T. Downs, J. Farmer, S. Feldman, M. Fonda, M. Gailhanou, H. Ma, D. W. Ming, R. V. Morris, P. Sarrazin, E. Stolper, A. Treimann, A. Yen : Space Sci. Rev., 170, 341 (2012).
• J. D. Hanawalt, H. W. Rinn : Ind. Eng. Chem. Anal. Ed., 8, 244 (1936).
• J. D. Hanawalt, H. W. Rinn, L. K. Frevel : Ind. Eng. Chem. Anal. Ed., 10, 457 (1938).
• H. Toraya, H. Hibino, K. Ohsumi : J. Synchrotron Rad., 3, 75 (1996).

Terms in the title (3)： 分析化学 ,  放射光 ,  粉末X線回折