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J-GLOBAL ID：201502290421713143   Reference number：15A0133481

Analysis of electron capture process in charge pumping sequence using time domain measurements

時間領域測定を用いた電荷ポンピングシーケンスにおける電子捕獲過程の分析

Author (4)： HORI Masahiro (Graduate School of Sci. and Engineering, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN) ,  WATANABE Tokinobu (Graduate School of Sci. and Engineering, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN) ,  TSUCHIYA Toshiaki (Interdisciplinary Graduate School of Sci. and Engineering, Shimane Univ., 1060 Nishikawatsu, Matsue 690-8504, JPN) ,  ONO Yukinori (Graduate School of Sci. and Engineering, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 105  Issue： 26  Page： 261602-261602-4  Publication year： Dec. 29, 2014 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： signal analysis ,  *excitation(physics) ,  electric charge ,  *electron capture ,  current-voltage characteristic ,  electric current ,  *MOSFET
Semi thesaurus term： time domain method ,  正孔電流 ,  *charge pumping ,  electron current

JST classification (1)： Transistors  (NC03070N)

Terms in the title (6)： 時間領域測定 ,  電荷ポンピング ,  シーケンス ,  電子捕獲 ,  過程 ,  分析