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J-GLOBAL ID：201502299184897495   Reference number：15A0350792

Development of a Novel Surface Elemental Analysis Methodology: X-ray-Aided Noncontact Atomic Force Microscopy (XANAM)

新しい表面元素分析法の開発 X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)

Author (1)： SUZUKI Shushi (Dep. of Crystalline Materials Sci., Graduate School of Engineering, Nagoya Univ.)
Material： Bulletin of the Chemical Society of Japan  (Bull Chem Soc Jpn)
Volume： 88  Issue： 2  Page： 240-250 (J-STAGE)  Publication year： 2015 
JST Material Number： G0450A  ISSN： 0009-2673  CODEN： BCSJA8  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *elemental analysis ,  *surface analysis ,  *scanning probe microscope ,  *atomic force microscope ,  *scanning tunneling microscope ,  tunneling spectroscopy ,  surface structure ,  photoelectron spectroscopy ,  chemical analysis ,  scale ,  nanostructure ,  molecule ,  space ,  *microscopy ,  X-ray absorption spectrum ,  X-ray irradiation ,  space resolving power ,  high-resolution
Semi thesaurus term： synchrotron radiation photoelectron spectroscopy ,  nanoscale ,  noncontact atomic force microscope ,  inelastic electron tunneling spectroscopy ,  force spectroscopy ,  real space

JST classification (2)： Analytical instruments  (CC02020S) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (127)：

• 1) R. Wiesendanger, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications, Cambridge University Press, Cambridge, 1994. doi:10.1017/CBO9780511524356.
• 2) S. Morita, R. Wiesendanger, E. Meyer, Noncontact Atomic Force Microscopy, Springer, Berlin, Heidelberg, 2002.
• 3) S. Morita, F. J. Giessibl, R. Wiesendanger, Noncontact Atomic Force Microscopy, Springer, Berlin, Heidelberg, 2009, Vol. 2. doi:10.1007/978-3-642-01495-6.
• 4) D. Bonnell, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques, and Applications, Wiley-VCH, New York, 2000.
• 5) S. Morita, Roadmap of Scanning Probe Microscopy, Springer, Berlin, Heidelberg, 2006. doi:10.1007/978-3-540-34315-8.

Terms in the title (5)： 元素分析 ,  開発 ,  X線 ,  支援 ,  非接触原子間力顕微鏡