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J-GLOBAL ID：201503004781534160

微粒子撮影装置及び流速計測装置

Inventor： 福地 有一 ,  中島 正人
Applicant, Patent owner： 本田技研工業株式会社
Agent (1)： 特許業務法人創成国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013268011
Publication number (International publication number)：2015125014
Application date： Dec. 25, 2013
Publication date： Jul. 06, 2015
Summary：

【課題】コンパクトな照明光学系を有する粒子撮影装置及びこれを用いた流速計測装置を提供する。【解決手段】粒子撮像素子1は、プローブ部5と、プローブ部5にレーザ光を導入する光ファイバ7と、レーザ光により照明される粒子を撮像する撮像部6とを備える。プローブ部5は、光ファイバ7からのレーザ光に基づいて粒子をシート状の照明光で照明する照明光学系13と、光ファイバ7の端部と照明光学系13との間の距離を変更する調整部14とを備える。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

粒子が分散した流体内に配置されるプローブ部と、 端部からレーザ光を射出する光ファイバと、 前記光ファイバの端部から射出されるレーザ光に基づいて照明される前記粒子を撮像する撮像部とを備え、 前記プローブ部は、 前記光ファイバの端部から射出されるレーザ光に基づいて前記粒子をシート状の照明光で照明する照明光学系と、 前記光ファイバの端部と前記照明光学系との間の距離を変更することにより該照明光学系によるレーザ光の集光位置を調整するための調整部とを備えることを特徴とする粒子撮影装置。

IPC (1)：

G01P 5/20

FI (1)：

G01P5/20 F

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 流体速度計測システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2009-089177   Applicant：株式会社東芝
• 流体の流動計測システムおよびその計測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-207476   Applicant：東京電力株式会社, 学校法人慶應義塾