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J-GLOBAL ID：201503006011880268
解析装置、解析方法及びコンピュータプログラム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
特許業務法人 志賀国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013267773
Publication number (International publication number)：2015125492
Application date： Dec. 25, 2013
Publication date： Jul. 06, 2015
Summary：
【課題】FDTD法を用いた電磁界解析において、計算時のメモリアクセスの頻度を低減し、計算時間を短縮すること。【解決手段】離散化された解析空間の複数モデルに関する計算に使用されるパラメータを読み込む読込部と、パラメータを複数モデル間で共通化する共通化部と、複数モデルに対して、読込部によって読み込まれたパラメータを用いてFDTD法により計算を行う計算部と、を備える。共通化部は、複数モデルの全てのモデルにおいて共通するパラメータをグループ化する。読込部は、複数モデルの計算に必要なパラメータを、共通化部によってグループ化された単位でまとめて読み込みを行う。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
離散化された解析空間の複数モデルに関する計算に使用されるパラメータを読み込む読込部と、
前記パラメータを前記複数モデル間で共通化する共通化部と、
前記複数モデルに対して、前記読込部によって読み込まれた前記パラメータを用いてFDTD法により計算を行う計算部と、
を備え、
前記共通化部は、前記複数モデルの全てのモデルにおいて共通するパラメータをグループ化し、
前記読込部は、前記複数モデルの計算に必要なパラメータを、前記共通化部によってグループ化された単位でまとめて読み込みを行う、解析装置。
IPC (3)：
G06F 17/50
, G01R 29/08
, G06F 19/00
G06F17/50 612H
, G01R29/08 D
, G06F19/00 110
