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J-GLOBAL ID:201503006443756444
集中度の評価装置、プログラム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
西川 惠清
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014108359
Publication number (International publication number):2015223224
Application date: May. 26, 2014
Publication date: Dec. 14, 2015
Summary:
【課題】集中度に関する客観的な評価値を算出する装置を提供する。【解決手段】評価装置10は、取得部11と記憶部12と処理部13と補正部15とを備える。取得部11は、利用者が行った複数のタスクについてタスクごとに測定された処理時間を取得する。記憶部12は、取得部11が取得したタスクごとの処理時間を記憶する。補正部15は、タスクごとの難易度に応じて設定した負荷係数を用いて、記憶部12が記憶している処理時間を、所定の難易度に対応する実効時間に補正する。処理部13は、利用者の集中度に関する評価値を記憶部12が記憶している処理時間から求めた実効時間の集合から得られる統計量に基づいて算出する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
利用者が行った複数のタスクについて前記タスクごとに測定された処理時間を取得する取得部と、
前記取得部が取得した前記タスクごとの前記処理時間を記憶する記憶部と、
前記タスクごとの難易度に応じて設定した負荷係数を用いて、前記記憶部が記憶している前記処理時間を、所定の難易度に対応する実効時間に補正する補正部と、
前記利用者の集中度に関する評価値を前記記憶部が記憶している前記処理時間から求めた前記実効時間の集合から得られる統計量に基づいて算出する処理部とを備える
ことを特徴とする集中度の評価装置。
IPC (2):
FI (2):
A61B5/16 300B
, G06Q50/22
F-Term (3):
4C038PP01
, 4C038PP03
, 5L099AA00
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