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J-GLOBAL ID：201503008376910878

塗膜劣化予測方法、塗膜劣化予測装置及びコンピュータプログラム

Inventor： 藤本 勝成 ,  氏家 計一 ,  辻 英朗
Applicant, Patent owner： 国立大学法人福島大学 ,  株式会社デンロコーポレーション
Agent (1)： 森川 淳
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2011094516
Publication number (International publication number)：2012225811
Patent number：5780817
Application date： Apr. 20, 2011
Publication date： Nov. 15, 2012
Claim (excerpt)：

【請求項1】 塗膜の劣化の進行を表す劣化進行モデルのパラメータに複数の候補値を設定し、パラメータの候補値毎に、時系列で表された複数の仮想劣化画像を作成する工程と、 塗膜の劣化予測の対象である塗装面の撮影画像から、塗膜の劣化部を抽出して対象画像を作成する工程と、 上記複数の仮想劣化画像から劣化部に関する統計量を算出し、算出された統計量を、パラメータの候補値毎に時系列に沿って連ねることにより表される仮想プロファイル曲線を作成する工程と、 上記対象画像から、劣化部に関する統計量を算出する工程と、 上記対象画像の統計量に最も近い仮想プロファイル曲線を特定し、特定された仮想プロファイル曲線のパラメータの値と時間変数の値を特定する工程と、 上記特定されたパラメータの値を劣化進行モデルのパラメータに入力する一方、上記特定された時間変数の値よりも大きい値を劣化進行モデルの時間変数に入力し、これにより得られた劣化進行モデルの出力に基づいて劣化予測画像を作成する工程と を備えることを特徴とする塗膜劣化予測方法。

IPC (5)：

G01N 21/88 ( 200 6.01) ,  G01B 11/28 ( 200 6.01) ,  G01N 17/00 ( 200 6.01) ,  G01B 11/30 ( 200 6.01) ,  G06T 1/00 ( 200 6.01)

FI (5)：

G01N 21/88 Z ,  G01B 11/28 H ,  G01N 17/00 ,  G01B 11/30 A ,  G06T 1/00 300

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 塗装劣化診断方法および装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2009-169515   Applicant：株式会社東北テクノアーチ
• 建造物塗装面の劣化診断方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-135101   Applicant：三菱化学株式会社