円二色性計測方法及び円二色性計測装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：長谷川芳樹 , 黒木義樹 , 石田悟
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013209345
Publication number (International publication number)：2015075329
Application date： Oct. 04, 2013
Publication date： Apr. 20, 2015
Summary：

【課題】試料の円二色性をより正確且つ簡便に計測する。【解決手段】ミュラー行列の行列要素S02と行列要素S20とをそれぞれ求めた後、これに基づいて円二色性を算出することで、従来の円二色性の測定結果には含まれていたアーチファクト成分が除去される。したがって、円二色性計測装置1を用いて、行列要素S02及び行列要素S20を測定し、これらの結果を用いて円二色性を算出する構成とすることで、より正確な円二色性の測定を行うことができる。また、円二色性計測装置1による円二色性計測方法では、行列要素S02及びS20の算出の際に、光源からの偏光特性の影響を受けないような処理が行われるため、光源に水平垂直方向の偏光成分が存在したとしても、その影響を受けないため、より正確に円二色性を計測することが可能となる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定対象の試料に係るミュラー行列を下記の数式(1)

IPC (1)：

G01N 21/19

FI (1)：

G01N21/19

F-Term (21)：

2G059AA02 , 2G059BB04 , 2G059BB08 , 2G059BB10 , 2G059CC12 , 2G059CC16 , 2G059EE01 , 2G059EE05 , 2G059EE12 , 2G059GG06 , 2G059HH03 , 2G059HH06 , 2G059JJ01 , 2G059JJ02 , 2G059JJ18 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059JJ30 , 2G059KK04 , 2G059MM01 , 2G059NN10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

光学特性測定方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2011-149106 Applicant：富士フイルム株式会社
特開昭61-193049

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