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J-GLOBAL ID：201503015627677040

導電材料の疲労試験方法

Inventor： 因 浩之 ,  案納 芙美代 ,  松永 大輔 ,  北原 弘基 ,  安藤 新二 ,  津志田 雅之 ,  小川 俊文
Applicant, Patent owner： 大電株式会社 ,  国立大学法人 熊本大学
Agent (4)： 中前 富士男 ,  清井 洋平 ,  来田 義弘 ,  今中 崇之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012132151
Publication number (International publication number)：2015158365
Application date： Jun. 11, 2012
Publication date： Sep. 03, 2015
Summary：

【課題】平均結晶粒径の調整と結晶組織の均質化が図られた疲労試験片を使用することが可能な導電材料の疲労試験方法を提供する。【解決手段】導電材料の疲労試験方法は、導電材料で作製した被加工物12に、加工度が1.5以上の塑性変形を加えて、平均結晶粒径が50μm以下の結晶組織で構成される原試験体11を作製する第1工程と、原試験体11に加える塑性変形の加工度を0.3以下にして、原試験体11に形成された結晶組織の状態を維持しながら、原試験体11から薄板試験片10を作製する第2工程とを有し、作製された薄板試験片10を片持ち支持し共振させて薄板試験片10に繰り返し曲げ変形を加えて、薄板試験片10が破断するまでの繰り返し回数を求める。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

導電材料で作製した被加工物に、加工度が1.5以上の塑性変形を加えて、平均結晶粒径が50μm以下の結晶組織で構成される原試験体を作製する第1工程と、 前記原試験体に加える塑性変形の加工度を0.3以下にして、該原試験体に形成された結晶組織の状態を維持しながら、前記原試験体から薄板試験片を作製する第2工程とを有し、 作製された前記薄板試験片を片持ち支持し共振させて該薄板試験片に繰り返し曲げ変形を加えて、該薄板試験片が破断するまでの繰り返し回数を求めることを特徴とする導電材料の疲労試験方法。

IPC (1)：

G01N 3/34

FI (1)：

G01N3/34 C

F-Term (7)：

2G061AA07 ,  2G061AB05 ,  2G061BA04 ,  2G061CA01 ,  2G061CB05 ,  2G061CC20 ,  2G061EC03