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J-GLOBAL ID：201503017045427571

量子状態測定装置および方法

Inventor： 角柳 孝輔 ,  松崎 雄一郎 ,  齊藤 志郎 ,  中ノ 勇人
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社
Agent (3)： 山川 政樹 ,  山川 茂樹 ,  小池 勇三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013165901
Publication number (International publication number)：2015035129
Application date： Aug. 09, 2013
Publication date： Feb. 19, 2015
Summary：

【課題】量子ビットの量子状態測定において発生する測定エラーに起因する可視度の低下を抑制し、測定精度が向上できるようにする。【解決手段】量子状態検出部101は、測定対象の量子ビット104の量子状態を3回以上量子非破壊測定し、それぞれの量子非破壊測定に対応する複数の測定結果を出力する。量子状態推定部102は、量子状態検出部101が出力した複数の測定結果の総和と、設定されている基準値とを比較することで、量子ビット104の量子状態を推定する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

測定対象の量子ビットの量子状態を3回以上量子非破壊測定し、それぞれの量子非破壊測定に対応する複数の測定結果を出力する量子状態検出手段と、 前記量子状態検出手段が出力した複数の測定結果の総和と、設定されている基準値とを比較することで、前記量子ビットの量子状態を推定する量子状態推定手段と を備えることを特徴とする量子状態測定装置。

IPC (3)：

G06N 99/00 ,  G06F 7/49 ,  H01L 39/22

FI (3)：

G06N99/00 ,  G06F7/49 Z ,  H01L39/22 D

F-Term (3)：

4M113AC03 ,  4M113AC46 ,  4M113AC50