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J-GLOBAL ID：201503025586983372

劣化解析方法

Inventor： 金子 房恵 ,  岸本 浩通
Applicant, Patent owner： 住友ゴム工業株式会社
Agent (1)： 特許業務法人 安富国際特許事務所
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2012078421
Publication number (International publication number)：WO2013065809
Application date： Nov. 02, 2012
Publication date： May. 10, 2013
Summary：

2種類以上のジエン系ポリマーを含む高分子材料の劣化状態、特に表面状態の劣化状態について、詳細に解析できる劣化解析方法を提供する。2種類以上のジエン系ポリマーを含む高分子材料に高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収量を測定することにより、各ジエン系ポリマーの劣化状態を解析する劣化解析方法に関する。

Claim (excerpt)：

2種類以上のジエン系ポリマーを含む高分子材料に高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収量を測定することにより、各ジエン系ポリマーの劣化状態を解析する劣化解析方法。

IPC (1)：

G01N 23/06

FI (1)：

G01N23/06

F-Term (16)：

2G001AA01 ,  2G001BA08 ,  2G001BA13 ,  2G001CA01 ,  2G001CA03 ,  2G001DA08 ,  2G001FA17 ,  2G001GA01 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001KA07 ,  2G001LA05 ,  2G001MA05 ,  2G001NA03 ,  2G001NA08 ,  2G001RA04