Pat
J-GLOBAL ID:201503029184190924

高温条件下での超音波疲労試験方法および試験装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 西澤 利夫
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2012557909
Patent number:5728788
Application date: Feb. 08, 2012
Claim (excerpt):
【請求項1】 高温条件下での超音波疲労試験方法であって、共振周波数の測定結果から温度に対応したヤング率を逆計算により算出し、疲労負荷条件を制御することを特徴とする高温条件下での超音波疲労試験方法。
IPC (1):
G01N 3/32 ( 200 6.01)
FI (1):
G01N 3/32 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
  • 金属材料中の欠陥検査方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-263821   Applicant:独立行政法人物質・材料研究機構
  • 特開昭62-195536
  • 振動片および振動子
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2009-291926   Applicant:セイコーエプソン株式会社
Cited by examiner (3)
  • 金属材料中の欠陥検査方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-263821   Applicant:独立行政法人物質・材料研究機構
  • 特開昭62-195536
  • 振動片および振動子
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2009-291926   Applicant:セイコーエプソン株式会社
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page