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J-GLOBAL ID：201503032269697263

テラヘルツ分光システム

Inventor： 諸橋 功 ,  関根 徳彦 ,  寳迫 巌 ,  今荘 義弘 ,  野口 博志
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人情報通信研究機構 ,  スタック電子株式会社
Agent (3)： 福田 賢三 ,  福田 伸一 ,  加藤 恭介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013260240
Publication number (International publication number)：2015117964
Application date： Dec. 17, 2013
Publication date： Jun. 25, 2015
Summary：

【課題】テラヘルツ波帯時間領域分光用で、発生器と検出器を一体にし、1回の時間掃引でリファレンス波形とサンプル波形を取得することができる小型テラヘルツ分光システムを提供する。【解決手段】第1光学結晶領域上に設けられた光パルス-テラヘルツ波変換部と、第2光学結晶領域上に設けられたテラヘルツ波検波部を有し、光パルス-テラヘルツ波変換部からテラヘルツ波検波部に反射を介することなく伝搬する直接テラヘルツ波が伝搬する第1経路を有し、第2光パルスの検波部への到着時点は、直接テラヘルツ波の検波部への到着時点から試料からのテラヘルツ透過波または反射波が波検波部への到着時点までを含む時間帯で、この時間帯を掃引するものとする。第1と第2光学結晶領域とは、同じ光学結晶上の領域であってもよい。発生器と検出器との一体ものを把持できるようにしてプローブとしてもよい。【選択図】図7

Claim (excerpt)：

第1光パルスの照射によってテラヘルツ波を発生するテラヘルツ波源と、発生したテラヘルツ波を被測定試料に照射する構成と、被測定試料または該被測定試料に設けられた反射手段で反射されたテラヘルツ透過波または反射波を入力し検波する検波手段と、を備え、上記検波手段は第2光パルスの照射により照射時点のテラヘルツ透過波または反射波強度を出力し、第1光パルス照射時点に対する第2光パルス照射時点の時間を変えて得た上記出力から上記テラヘルツ波の波形を取得することのできるテラヘルツ時間分解分光システムにおいて、 上記テラヘルツ波源は第1光学結晶領域上に設けられた光パルス-テラヘルツ波変換部を有し、上記検波手段は少なくとも部分的に第2光学結晶領域上に設けられたテラヘルツ波検出部を有し、上記光パルス-テラヘルツ波変換部から上記テラヘルツ波検出部に反射を介することなく直接伝搬する直接テラヘルツ波を伝搬させることのできる第1経路を有するものであり、 上記第2光パルスの上記テラヘルツ波検出部への到着時点は、上記直接テラヘルツ波の上記テラヘルツ波検出部への到着時点から上記テラヘルツ透過波または反射波の上記テラヘルツ波検出部への到着時点までを含む時間帯を離散的に掃引する複数時点であることを特徴とするテラヘルツ分光システム。

IPC (1)：

G01N 21/358

FI (1)：

G01N21/35 106

F-Term (16)：

2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059MM01 ,  2G059MM08