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J-GLOBAL ID:201503044339592284

解析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 寺本 光生 ,  志賀 正武 ,  高橋 久典
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013144343
Publication number (International publication number):2015018360
Application date: Jul. 10, 2013
Publication date: Jan. 29, 2015
Summary:
【課題】三次元空間における流れを解析する解析装置において、短時間で解析結果を得る。【解決手段】三次元空間の形状を示す点群データを取得する三次元計測器と、上記三次元計測器で得られた点群データから物体形状を示すモデルデータを作成すると共に上記モデルデータを用いた流体計算を行う演算処理部とを備える。【選択図】図1
Claim (excerpt):
三次元空間の形状を示す点群データを取得する三次元計測器と、 前記三次元計測器で得られた点群データから物体形状を示すモデルデータを作成すると共に前記モデルデータを用いた流体計算を行う演算処理部と を備えることを特徴とする解析装置。
IPC (2):
G06F 17/50 ,  G06F 19/00
FI (3):
G06F17/50 612J ,  G06F17/50 622C ,  G06F19/00 110
F-Term (4):
5B046DA08 ,  5B046EA08 ,  5B046FA16 ,  5B046JA09
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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Article cited by the Patent:
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