試料を分析する方法およびシステム

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：小林浩 , 大森規雄 , 鈴木康仁
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2014556621
Publication number (International publication number)：2015506484
Application date： Feb. 06, 2013
Publication date： Mar. 02, 2015
Summary：

本開示は、材料の試料を分析する方法に関する。この方法は、(a)試料の一部分をプラズマに複数回変換するステップと、(b)各試料変換に応答して発出される電磁放射のスペクトルを記録して、試料のスペクトルのシーケンスを規定するステップであり、そのシーケンスの各メンバが、試料変換の異なる1回に応答して記録されたスペクトルに対応するステップと、(c)電子プロセッサを使用して、試料のスペクトルのシーケンスを、参照ライブラリ中の少なくとも1つの参照試料のそれぞれのスペクトルのシーケンスと比較するステップと、(d)電子プロセッサを使用して、ライブラリ中の参照試料との比較に基づいて試料に関する情報を決定するステップとを含む。

Claim (excerpt)：

試料を分析する方法であって、 a.前記試料の一部分をプラズマに複数回変換するステップと、 b.前記試料変換のそれぞれに応答して発出される電磁放射のスペクトルを記録して、前記試料のスペクトルのシーケンスを規定するステップであり、前記シーケンスの各メンバが、前記試料変換の異なる1回に応答して記録された前記スペクトルに対応するステップと、 c.電子プロセッサを使用して、前記試料のスペクトルの前記シーケンスを、参照ライブラリ中の複数の参照試料のそれぞれのスペクトルのシーケンスと比較するステップと、 d.前記電子プロセッサを使用して、前記ライブラリ中の前記複数の参照試料との前記比較に基づいて前記試料に関する情報を決定するステップとを含む、方法。

IPC (2)：

G01N 21/63 , G01N 21/67

FI (4)：

G01N21/63 A , G01N21/63 Z , G01N21/67 A , G01N21/67 Z

F-Term (20)：

2G043AA01 , 2G043AA03 , 2G043CA04 , 2G043CA05 , 2G043DA01 , 2G043EA09 , 2G043EA10 , 2G043EA11 , 2G043FA06 , 2G043FA07 , 2G043GA07 , 2G043GB21 , 2G043HA05 , 2G043JA04 , 2G043KA01 , 2G043KA02 , 2G043KA03 , 2G043KA08 , 2G043KA09 , 2G043LA03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

光学検出方法および表示装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-237472 Applicant：株式会社東芝
コンクリート構造物の検査方法及びその検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-189545 Applicant：澁谷工業株式会社
微生物の自動特徴づけおよび分類
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2006-507886 Applicant：エラスムスユニバーシティメディカルセンターロッテルダム

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