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J-GLOBAL ID：201503054829329153
解析方法、解析装置、及び解析プログラム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
特許業務法人 志賀国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013152633
Publication number (International publication number)：2015022693
Application date： Jul. 23, 2013
Publication date： Feb. 02, 2015
Summary：
【課題】FDTD法における使用メモリを削減する。【解決手段】解析空間を複数のセルに分割し、解析空間内の電磁界をFDTD法で解析する解析方法において、セル毎の媒質の誘電率を誘電率の実数値よりもメモリ使用量の少ない記憶形態で記憶する。この記憶形態は、媒質の種類に対応するインデックス値であって、FDTD法の計算において、インデックス値で記憶された誘電率をインデックス値に対応する実数値に置き換えて用いる。または、この記憶形態は、媒質の種類に応じて割り当てられた文字変数であって、FDTD法の計算結果を示す数式における文字変数に、文字変数に対応する誘電率の実数値を代入する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
解析空間を複数のセルに分割し、当該解析空間内の電磁界をFDTD(Finite Difference Time-Domain method)法で解析する解析方法において、
前記セル毎の媒質の誘電率を当該誘電率の実数値よりもメモリ使用量の少ない記憶形態で記憶する段階を有する解析方法。
IPC (3)：
G06F 19/00
, G06F 17/50
, G06F 17/16
G06F19/00 110
, G06F17/50 612H
, G06F17/16 Z
5B046AA04
, 5B046JA10
, 5B056AA01
, 5B056BB31
, 5B056BB42
