Pat

J-GLOBAL ID：201503069936356780

蛍光X線検出装置及び蛍光X線検出方法

Inventor： 辻 幸一 ,  駒谷 慎太郎 ,  内原 博 ,  坂東 篤
Applicant, Patent owner： 公立大学法人大阪市立大学 ,  株式会社堀場製作所
Agent (2)： 河野 登夫 ,  河野 英仁
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2011097579
Publication number (International publication number)：2011247882
Patent number：5704711
Application date： Apr. 25, 2011
Publication date： Dec. 08, 2011
Claim (excerpt)：

【請求項1】 X線源と、該X線源からのX線を、焦点を含む特定の大きさの第1空間に集中させる第1X線レンズと、試料へのX線の照射によって発生する蛍光X線の内、焦点を含む特定の大きさの第2空間からの蛍光X線を集光する第2X線レンズとを備え、前記第1空間と前記第2空間とを重ねておき、前記第2X線レンズが集光した蛍光X線を検出する蛍光X線検出装置において、 前記第1X線レンズの焦点の位置と、前記第2X線レンズの焦点の位置とを、前記第1空間及び前記第2空間の少なくとも一部が重なる範囲内で離隔してあること を特徴とする蛍光X線検出装置。

IPC (1)：

G01N 23/223 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 23/223

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• X線検査装置及びX線検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-029899   Applicant：松下電器産業株式会社
• X線分析装置及びX線分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-182827   Applicant：独立行政法人科学技術振興機構
• 蛍光X線三次元分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-216204   Applicant：浜松ホトニクス株式会社
• X線照射を使用して対象の内部構造の画像を得る方法およびそれを実行する装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-302304   Applicant：クマホフ,ムラジンアブベキロビッチ

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 「共焦点型3次元蛍光X線分析装置の開発と微小部深さ方向分析への応用」