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J-GLOBAL ID：201503073397032965

エックス線検出具及びエックス線検出方法

Inventor： 三好 弘一 ,  長谷 仁 ,  来田 文夫
Applicant, Patent owner： 国立大学法人徳島大学 ,  株式会社 サンルックス
Agent (2)： 石田 喜樹 ,  園田 清隆
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014219556
Publication number (International publication number)：2015111110
Application date： Oct. 28, 2014
Publication date： Jun. 18, 2015
Summary：

【課題】エックス線を低コストで簡単に検出可能な検出具や検出方法を提供する。【解決手段】エックス線検出具は、ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート(PEDC)を基材として形成されている。又、エックス線検出具は、PEDCを主成分とする材料に対し、UV吸収剤を、600ppm以上4000ppm以下で分散させたり、蛍光色素、シリカナノ粒子、蛍光色素内包シリカナノ粒子、又はシリカナノカプセルの少なくとも何れかを分散させたり、パルミチン酸イソプロピル(IPP)を分散させたりして形成される。PEDCは、アリルジグリコールカーボネート(ADC)とすることができる。更に、エックス線検出方法として、上記のエックス線検出具からエックス線照射痕を認識することでエックス線を検出する。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート(PEDC)を基材として形成されている ことを特徴とするエックス線検出具。

IPC (1)：

G01T 1/10

FI (1)：

G01T1/10

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 個人および地域用自動インスタント放射線アラート線量計
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2006-503901   Applicant：ジェイピーラボラトリーズインコーポレイテッド
• 特開平2-245689