Pat
J-GLOBAL ID:201503076461436454

粒子線モニタリング装置、粒子線モニタリングプログラム及び粒子線モニタリング方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 川口 嘉之 ,  松倉 秀実 ,  平川 明
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2011036461
Publication number (International publication number):2012170655
Patent number:5721135
Application date: Feb. 22, 2011
Publication date: Sep. 10, 2012
Claim (excerpt):
【請求項1】 照射体に入射した粒子線から作用を受けた電子からの制動輻射の放射線情報を、照射体の位置関係に応じて検出する検出部と、 前記検出部により検出された位置関係に応じた制動輻射の放射線情報から、照射体中における粒子線の挙動に関する情報を算出する算出部と、 を備えたことを特徴とする粒子線モニタリング装置。
IPC (1):
A61N 5/10 ( 200 6.01)
FI (1):
A61N 5/10 Q

Return to Previous Page