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J-GLOBAL ID：201602000800434022   Reference number：58A0070823

A New Approach to the Measurement of Coating Thickness by Fluorescent X-Ray Absorption.

けい光X線吸収による被覆膜の厚さの測定法(鉄の薄膜を被覆膜の,銀とジルコニウムを基体金属のモデルとして実験した)

Author (2)： ACHEY F A ,  SERFASS E J
Material： J Electrochem Soc  (Journal of the Electrochemical Society)
Volume： 105  Issue： 4  Page： 204-205  Publication year： 1958 
JST Material Number： C0285A  ISSN： 0013-4651  CODEN： JESOAN  Document type： Article
Country of issue： United States (USA) 

Terms in the title (10)： けい光X線 ,  被覆膜 ,  厚さ ,  測定法 ,  鉄 ,  薄膜 ,  銀 ,  ジルコニウム ,  モデル ,  実験