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J-GLOBAL ID：201602001765596681   Reference number：65A0174103

Geometrical and statistical properties of systems of linear inequalities with applications in pattern recognition

線形不等式系の幾何学的および統計的性質とパターン認識への応用

Author (1)： COVER T M
Material： IEEE Trans Electron Comput  (IRE Transactions on Electronics Computers)
Volume： EC-14  Issue： 3  Page： 326-334  Publication year： 1965 
JST Material Number： C0233A  CODEN： IEECA   Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA) 

Terms in the title (6)： 線形 ,  不等式 ,  幾何学 ,  統計的性質 ,  パターン認識 ,  応用