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J-GLOBAL ID：201602004353991020   Reference number：58A0050573

Microfilm report system streamlines trouble-shooting.

マイクロフイルムのシステム化により複雑な測定を簡易化(IBMにマイクロフイルムを取付けて,材料,装置の欠陥故障を急速に認め,記録し,通信し,航空機の安全飛行を保証,また工場生産にも適用)

Material： Ind Photogr  (Industrial Photography)
Volume： 7  Issue： 2  Page： 69  Publication year： 1958 
JST Material Number： C0169A  ISSN： 0019-8595  CODEN： INPHA   Document type： Article
Country of issue： United States (USA) 

Terms in the title (9)： システム化 ,  簡易化 ,  IBM ,  欠陥 ,  故障 ,  航空機 ,  飛行 ,  保証 ,  工場