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J-GLOBAL ID：201602009524942725   Reference number：58A0000497

Методика получения правильных значений микротвердости путем химического удаления поверхностно наклепанных слоев.

表面層を化学的に分離し,微小かたさを正しく測定する方法

Author (2)： ВИГДОРОВНЧ В Н ,  ВОЛЪПЯн в Е
Material： Zavod Lab  (Zavodskaya Laboratoriya)
Volume： 24  Issue： 6  Page： 762-764  Publication year： 1958 
JST Material Number： R0131A  ISSN： 0321-4265  CODEN： ZVDLA  Document type： Article
Country of issue： USSR (SUN) 

JST classification (3)： (MA020107) ,  (MA020406) ,  (MA020509)

Terms in the title (4)： 表面層 ,  化学 ,  微小 ,  かたさ