Art
J-GLOBAL ID:201602010707857067   Reference number:58A0060087

Effect of Electron Lenses on Beam Noise.

電子レンズの電子ビーム雑音に対する影響 (電子銃およびレンズ系の構造でビームに不連続を与える場合また集束用磁界は雑音をます)
Author (1):
Material:
Volume: ED-5  Issue:Page: 84-87  Publication year: 1958
JST Material Number: C0238A  CODEN: IRBSA  Document type: Article
Country of issue: United States (USA) 

Return to Previous Page