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J-GLOBAL ID：201602010869700250   Reference number：58A0053526

Data Handling for a Reliability Test Program.

回路素子の信頼性試験計画におけるデータ処理について (3万個の抵抗,2万個のダイオード,9千個のトランジスタに平均2週間の信頼性試験を行った際のデータ処理の原理)

Author (2)： WALTER V W ,  BIEN F I
Material： IRE Transactions on Broadcast Transmission Systems (Institute of Radio Engineers)  (IRE Trans Broadcast Transm Syst (Inst Radio Eng))
Volume： I-7  Issue： 1  Page： 44-47  Publication year： 1958 
JST Material Number： C0238A  CODEN： IRBSA  Document type： Article
Country of issue： United States (USA) 

JST classification (3)： (EA010100) ,  (EA010203) ,  (EA010306)

Terms in the title (7)： 回路素子 ,  信頼性試験 ,  計画 ,  ダイオード ,  トランジスタ ,  平均 ,  原理