{{ $t("message.ADVERTISEMENT") }}
{{ $t("message.AD_EXPIRE_DATE") }}{{ad01_expire_date}}
{{ $t("message.ADVERTISEMENT") }}
{{ $t("message.AD_EXPIRE_DATE") }}{{ad02_expire_date}}
Art
J-GLOBAL ID:201602012111768957   Reference number:68A0119394

Модуляционно-поляриметрический метод измерения толщины тонких пленок.

変調偏光法による薄膜の厚さの測定
Author (3):
Material:
Volume: 42  Issue:Page: 558-560  Publication year: 1968
JST Material Number: R0136A  ISSN: 0044-4537  CODEN: ZFKHA   Document type: Article
Article type: 解説  Country of issue: USSR (SUN) 
Terms in the title (4):
Terms in the title
Keywords automatically extracted from the title.

Return to Previous Page