{{ $t("message.ADVERTISEMENT") }}
{{ $t("message.AD_EXPIRE_DATE") }}{{ad01_expire_date}}
{{ $t("message.ADVERTISEMENT") }}
{{ $t("message.AD_EXPIRE_DATE") }}{{ad02_expire_date}}
Art
J-GLOBAL ID:201602012350798787   Reference number:60A0114483

Micrographie electronique de films de beryllium,amincis a partir d’echantillons massifs.Mise en evidence de la sous-struture et des dislocations.

固体試料から作ったベリリウム薄膜の電子顕微鏡写真。下部組織と転位の観察
Author (2):
Material:
Volume: 250  Issue:Page: 709,708(1-2)  Publication year: 1960
JST Material Number: B0303A  Document type: Article
Article type: 短報  Country of issue: France (FRA) 

Return to Previous Page