Art

J-GLOBAL ID：201602015918053225   Reference number：58A0057643

Radome Thickness Gage is Frequency Stabilized.

周波数安定回路をもつレードームの厚み計(安定化された周波数のクライストロンを使ってレードームの厚さと誘電率を決定する装置)

Author (3)： WEBBER A H Jr ,  PRESTON A C ,  CROOKS R G
Material： Electronics  (Electronics Week)
Volume： 31  Issue： 25  Page： 70-72  Publication year： 1958 
JST Material Number： B0455B  ISSN： 0013-5070  CODEN： ELECA  Document type： Article
Country of issue： United States (USA) 

JST classification (1)： (EE010102)

Terms in the title (6)： 周波数安定 ,  レードーム ,  厚み計 ,  安定化 ,  クライストロン ,  誘電率