Art
J-GLOBAL ID：201602017271661930
Reference number：58A0053691
Messung des Spannungsabfalls von Halbleitergleichrichterzellen.
半導体整流素子の電圧降下の測定
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Publisher site
Copy service
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Access JDreamⅢ for advanced search and analysis.
Author (1)：
Material：
Volume：
49
Issue：
26
Page：
1219-1222
Publication year：
1958
JST Material Number：
B0123A
CODEN：
BUSEA
Document type：
Article
Country of issue：
Switzerland (CHE)
Terms in the title (2)：
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