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J-GLOBAL ID：201602205797214564   Reference number：16A0258554

Development of log-scale comb-generator for daily checking of EMI test system less than 30 MHz using FPGA and DAC

FPGAとDACを用いた30MHz以下のEMI試験装置点検用対数目盛コムジェネレータの開発

Author (2)： AMEYA MICHITAKA (産業技術総合研) ,  KUROKAWA SATORU (産業技術総合研)
Material： 電気学会計測研究会資料  (電気学会研究会資料)
Volume： IM-16  Issue： 1-16  Page： 43-46  Publication year： Feb. 18, 2016 
JST Material Number： Z0912A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *pulse generator ,  *FPGA ,  *digital to analog converter ,  *electromagnetic compatibility(interference) ,  *testing device ,  *checking out ,  *division(measure) ,  output ,  frequency characteristic ,  temperature dependence
Semi thesaurus term： *コムジェネレータ ,  *logarithmic scale

JST classification (1)： Noise measurement  (ND04030F)

Terms in the title (7)： FPGA ,  DAC ,  EMI ,  試験装置 ,  点検 ,  対数目盛 ,  開発