Art

J-GLOBAL ID：201602210724916645   Reference number：16A0176211

異種元素ドーピング鉄シリサイド薄膜のXAFSを用いた解析

Author (13)： TOMINAGA AKI (九大 大学院総合理工学研究院) ,  TOMINAGA AKI (九大 シンクロトロン光利用研究セ) ,  MOSTAFA Tarek M. (九大 大学院総合理工学研究院) ,  NISHIBORI MAIKO (九大 大学院総合理工学研究院) ,  NISHIBORI MAIKO (九大 シンクロトロン光利用研究セ) ,  TAKAHARA MOTOI (九大 大学院総合理工学研究院) ,  BABA TAKASHI (九大 大学院総合理工学研究院) ,  NARAKINO HIROSHI (九大 大学院総合理工学研究院) ,  KAMIYA KAZUTAKA (九大 シンクロトロン光利用研究セ) ,  OKAJIMA TOSHIHIRO (九大 シンクロトロン光利用研究セ) ,  OKAJIMA TOSHIHIRO (九州シンクロトロン光研究セ) ,  YOSHITAKE TSUYOSHI (九大 大学院総合理工学研究院) ,  YOSHITAKE TSUYOSHI (九大 シンクロトロン光利用研究セ)
Material： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
Volume： 29th  Page： 123  Publication year： Jan. 09, 2016 
JST Material Number： L1310A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： silicide ,  iron compound ,  PN junction ,  semiconductor thin film ,  X-ray diffraction ,  *EXAFS ,  *XANES ,  carbon ,  doping ,  *solar cell
Semi thesaurus term： *iron silicide ,  film solar cell

JST classification (1)： X-ray spectra in general.Including X-ray  (BM08101P)

Terms in the title (7)： 元素 ,  ドーピング ,  鉄 ,  シリサイド ,  薄膜 ,  XAFS ,  解析