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J-GLOBAL ID：201602211988672015   Reference number：16A0176069

共鳴軟X線散乱を用いた強磁性金属La_0.6Sr_0.4MnO₃薄膜の深さ方向電子状態解析

Author (10)： SHIBATA GORO (東大 理) ,  WADACHI HIROKI (東大 物性研) ,  TAKUBO KO (東大 物性研) ,  TAKAHASHI FUMIO (東大 物性研) ,  SUTARTO Ronny (Canadian Light Source) ,  HE Feizhou (Canadian Light Source) ,  YOSHIMATSU KOHEI (KEK-PF) ,  KUMIGASHIRA HIROSHI (KEK-PF) ,  KOIDE TSUNEHARU (KEK-PF) ,  FUJIMORI ATSUSHI (東大 理)
Material： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
Volume： 29th  Page： 87  Publication year： Jan. 09, 2016 
JST Material Number： L1310A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray scattering ,  resonance scattering ,  solid solution ,  lanthanum compound ,  strontium compound ,  manganate ,  magnetic thin film ,  MBE growth ,  X-ray absorption spectrum ,  film thickness ,  metal ,  *electronic state ,  *resonant X-ray scattering ,  *lanthanum strontium manganate ,  ferromagnetic metal ,  laser MBE growth
Semi thesaurus term： laser MBE

JST classification (1)： Magnetic properties of oxides  (BM06050E)

Terms in the title (6)： 共鳴軟X線散乱 ,  強磁性金属 ,  薄膜 ,  深さ方向 ,  電子状態 ,  解析