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J-GLOBAL ID：201602213306437640   Reference number：16A0041944

マイクロプローブホール電界イオン顕微鏡を用いた単一原子領域内のイオン生成率分布の精密測定

Author (4)： OTA YASUSHI (大阪市大 大学院) ,  WAKIMURA TATSUYA (大阪市大 大学院) ,  MORIOKA RYOTARO (大阪市大 大学院) ,  KOBAYASHI ATARU (大阪市大 大学院)
Material： 表面科学学術講演会講演要旨集  (表面科学学術講演会要旨集)
Volume： 35th  Page： 173  Publication year： Dec. 01, 2015 
JST Material Number： L1366A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *focused ion beam ,  *Tungsten ,  *trimer ,  *field ion microscope ,  *ion emission ,  *point ,  plasma production ,  simulation ,  field ion emission ,  *bright spot
Semi thesaurus term： trimer ,  ion production

JST classification (2)： Electron and ion sources  (BD02020U) ,  Thermoionic emission and field emission  (BM09020S)

Terms in the title (5)： 電界イオン顕微鏡 ,  単一原子 ,  イオン ,  分布 ,  精密測定