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J-GLOBAL ID：201602213580808564   Reference number：16A1271694

分子の内部構造を見る原子間力顕微鏡技術

Author (3)： SHIMIZU TOMOKO (物質・材料研究機構) ,  SHIMIZU TOMOKO (JSTさきがけ) ,  CUSTANCE Oscar (物質・材料研究機構)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 37  Issue： 7  Page： 320-325(J-STAGE)  Publication year： 2016 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,  *internal structure ,  contactless measurement ,  high-resolution ,  multipath propagation ,  scanning tunneling microscope ,  *molecular structure ,  frequency shift ,  tunnel effect ,  anatase ,  conductive property ,  polyacene
Semi thesaurus term： multi-path

Author keywords (8)： non-contact atomic force microscopy ,  submolecular resolution ,  multi-pass routine ,  force volume ,  non-contact atomic force microscopy ,  submolecular resolution ,  multi-pass routine ,  force volume

JST classification (1)： Experimental research on molecular structure and properties  (CB01020I)

Substance index (1)： Pentacene

Reference (18)：

• 1) L. Gross, F. Mohn, N. Moll and G. Meyer: Science 325, 1110 (2009).
• 2) D.G. de Oteyza, P. Gorman, Y.C. Chen, S. Wickernburg, A. Riss, D.J. Mowbray, G. Etkin, Z. Pedramrazi, H.Z. Tsai, A. Rubio and M.F. Crommie: Science 340, 1434 (2013).
• 3) S. Kawai, A. Sadeghi, X. Feng, P. Lifen, R. Pawlak, T. Glatzel, A. Willand, A. Orita, J. Otera, S. Goedecker and E. Meyer: ACS Nano 7, 9098 (2013).
• 4) L. Gross, F. Mohn, N. Moll, B. Schuler, A. Criado, E. Guitian, D. Peña, A. Gourdon and G. Meyer: Science 337, 1326 (2012).
• 5) F. Mohn, L. Gross, N. Moll and G. Meyer: Nat. Nanotechnol. 7, 227 (2012).

Terms in the title (3)： 分子 ,  内部構造 ,  原子間力顕微鏡