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J-GLOBAL ID：201602219898445592   Reference number：16A0176124

軟X線角度分解光電子分光による強磁性半導体Ge_1-xFe_xの電子構造の解明

Author (11)： SAKAMOTO YOSHICHIKA (東大 理) ,  WAKABAYASHI YUKI (東大 工) ,  TAKEDA YUKIHARU (JAEA) ,  FUJIMORI SHIN'ICHI (JAEA) ,  SUZUKI HIROTO (東大 理) ,  BAN YOSHISUKE (東大 工) ,  YAMAGAMI HIROSHI (JAEA) ,  YAMAGAMI HIROSHI (京産大 理) ,  TANAKA MASAAKI (東大 工) ,  OYA SHINOBU (東大 工) ,  FUJIMORI ATSUSHI (東大 理)
Material： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
Volume： 29th  Page： 101  Publication year： Jan. 09, 2016 
JST Material Number： L1310A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： angle resolved spectroscopy ,  Photoelectron Spectroscopy ,  *X-ray photoelectron spectrum ,  *electronic structure ,  soft X-ray ,  *ferromagnetic semiconductor ,  valence band ,  impurity level ,  ferromagnetism ,  *germanium base alloy ,  iron containing alloy ,  Fermi level ,  MBE growth ,  angle-resolved photoemission spectroscopy

JST classification (2)： Electronic structure of crystalline metals  (BM02050C) ,  Magnetic properties of metals  (BM06040T)

Terms in the title (4)： 軟X線 ,  角度分解光電子分光 ,  強磁性半導体 ,  電子構造